エレクトロニクスおよび電気工学の赤外線サーモグラフィ

複雑な電子アセンブリは、非常に小さなスペースに多数の異なるコンポーネントを組み合わせています。小型化は、電力散逸を減らす傾向にもかかわらず、熱管理、エラーのない操作、および生産におけるプロセスパラメーターのコンプライアンスを高めます。赤外線サーモグラフィは、温度分布と時間シーケンスの効率的な記録に使用されます。光学法は、表面温度の非接触測定に使用され、測定されたオブジェクトのRFインピーダンスやそれからの熱放散に影響しません。