Thermografische analyses van elektronische componenten en assemblages zijn al belangrijk tijdens de ontwikkeling van de eerste prototypes. Tijdens elke stap van de ontwikkeling geven ze belangrijke conclusies voor de optimalisatie van thermisch beheer en het ontwerp van complexe elektronische assemblages.
Bij de productie van elektronica wordt de thermografische temperatuurmeting gebruikt voor kwaliteitsborging, naast andere methoden. Thermografie biedt beslissende voordelen, zowel in de setting van kritieke technologische parameters als hun permanente monitoring, als in de inline testen van producten tegen een gouden bord en de uiteindelijke functionele test. Het geautomatiseerde inspectiesysteem van Infratec kan zelfs de kleinste thermische defecten op halfgeleidermaterialen detecteren. Een speciale vergrendelingsprocedure en een krachtige infraroodcamera zorgen voor de kortste inspectietijden.
Door middel van lock-in analyseprocedure van INFRATEC`s IRBIS®